qnix4500鍍鋅層測(cè)厚儀/0-3000μm

• 更新時(shí)間：2020-10-09
• 瀏覽次數(shù)：1620

qnix4500鍍鋅層測(cè)厚儀/0-3000μm
德國(guó)尼克斯QNix4200/4500涂鍍層進(jìn)口測(cè)厚儀這兩種型號(hào)一體化/分體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用非常簡(jiǎn)單。在傳統(tǒng)QNix® 4500基礎(chǔ)上，為了滿足客戶不同的需要，特推出QNix® 4500（分體式）機(jī)，探頭和主機(jī)之間通過(guò)一根探頭線連接起來(lái)，可以滿足特定測(cè)量環(huán)境（比如狹小空間）的需要，測(cè)量更方便，使用更人性化，性價(jià)比更高。

訂購(gòu)留言

分享到：

qnix4500鍍鋅層測(cè)厚儀/0-3000μm

德國(guó)尼克斯 QNIX 涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)：

零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。尼克斯涂層測(cè)厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確
溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
單探頭量程大：0－5mm

德國(guó)尼克斯QNix4200/4500涂鍍層進(jìn)口測(cè)厚儀這兩種型號(hào)一體化/分體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用非常簡(jiǎn)單。其中QNix4200為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測(cè)厚儀，不僅可以用來(lái)測(cè)量鋼鐵等磁性基體，還可以用來(lái)測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個(gè)型號(hào)操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛(ài)德國(guó)尼克斯QNix4200/4500涂鍍層進(jìn)口測(cè)厚儀。

在傳統(tǒng)QNix® 4500基礎(chǔ)上，為了滿足客戶不同的需要，特推出QNix® 4500（分體式）機(jī)，探頭和主機(jī)之間通過(guò)一根探頭線連接起來(lái)，可以滿足特定測(cè)量環(huán)境（比如狹小空間）的需要，測(cè)量更方便，使用更人性化，性價(jià)比更高

    為了迎合用戶需要，還推出QNix® 4500（大量程）機(jī)，使在鐵基測(cè)量模式下量程可擴(kuò)大到5mm。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

•　只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)
•　體積小巧，操作方便
•　一機(jī)雙用，自動(dòng)識(shí)別基體
•　精度高
•　價(jià)格便宜

QNix® 4500（分體式）介紹

     1 簡(jiǎn)單快速測(cè)量
     2 不需要校準(zhǔn)
     3 自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)
     4 大量程FE:0-5000um NFE:0-3000um
     5 雙用探頭，性價(jià)比高
     6 霍爾傳感器讓測(cè)量更穩(wěn)定
     7 測(cè)量時(shí)聲音同步
     8 紅寶石耐磨頭，壽命長(zhǎng)
     9 背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰
    10自動(dòng)識(shí)別測(cè)量基體
    11 分體式探頭，滿足不同的測(cè)量環(huán)境
 

選型指南

技術(shù)參數(shù)